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IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW)

收录 809 篇论文，累计被引 9,179 次，出版年份 2003–2024。

收录篇数
809
总被引
9,179
篇均被引
11
单篇最高被引
222
年份区间
2003–2024
近五年篇数
136

逐年收录分布

近 21 个有收录的年份（最多 40 个）。悬停查看当年篇数。

034682003 年：31 篇20032004 年：25 篇2005 年：68 篇2006 年：33 篇20062007 年：39 篇2008 年：26 篇2009 年：30 篇20092010 年：28 篇2011 年：34 篇2012 年：34 篇20122013 年：39 篇2014 年：58 篇2015 年：38 篇20152016 年：50 篇2017 年：61 篇2019 年：47 篇20192020 年：32 篇2021 年：1 篇2022 年：41 篇20222023 年：43 篇2024 年：51 篇2024
纵轴为当年收录篇数；峰值 68 篇（2005 年）。
查看数据表
年份篇数占比
2024516.3%
2023435.3%
2022415.1%
202110.1%
2020324.0%
2019475.8%
2017617.5%
2016506.2%
2015384.7%
2014587.2%
2013394.8%
2012344.2%
2011344.2%
2010283.5%
2009303.7%
2008263.2%
2007394.8%
2006334.1%
2005688.4%
2004253.1%
2003313.8%

代表作

  1. 0
    SEU characterization of commercial and custom-designed SRAMs based on 90 nm technology and below ↗

    2020 年 · 被引 222 次

  2. 1
    Improved capabilities for proton and neutron irradiations at TRIUMF ↗

    2004 年 · 被引 100 次

  3. 2
    Single-Event Characterization of the 28 nm Xilinx Kintex-7 Field-Programmable Gate Array under Heavy Ion Irradiation ↗

    2014 年 · 被引 99 次

  4. 3
    Static Proton and Heavy Ion Testing of the Xilinx Virtex-5 Device ↗

    2007 年 · 被引 71 次

  5. 4
    Characterization of the ANITA Neutron Source for Accelerated SEE Testing at the Svedberg Laboratory ↗

    2009 年 · 被引 70 次

  6. 5
    Total Ionizing Dose Radiation Effects on 14 nm FinFET and SOI UTBB Technologies ↗

    2015 年 · 被引 57 次

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