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Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium

收录 963 篇论文，累计被引 8,783 次，出版年份 1987–2018。

收录篇数
963
总被引
8,783
篇均被引
9.1
单篇最高被引
142
年份区间
1987–2018
近五年篇数
0

逐年收录分布

近 23 个有收录的年份（最多 40 个）。悬停查看当年篇数。

0691371987 年：1 篇19871995 年：41 篇1996 年：1 篇1997 年：43 篇19971998 年：4 篇2001 年：35 篇2002 年：137 篇20022003 年：76 篇2004 年：50 篇2005 年：74 篇20052006 年：33 篇2007 年：56 篇2008 年：35 篇20082009 年：4 篇2010 年：39 篇2011 年：41 篇20112012 年：39 篇2013 年：38 篇2014 年：15 篇20142015 年：57 篇2016 年：45 篇2017 年：49 篇20172018 年：50 篇2018
纵轴为当年收录篇数；峰值 137 篇（2002 年）。
查看数据表
年份篇数占比
2018505.2%
2017495.1%
2016454.7%
2015575.9%
2014151.6%
2013383.9%
2012394.0%
2011414.3%
2010394.0%
200940.4%
2008353.6%
2007565.8%
2006333.4%
2005747.7%
2004505.2%
2003767.9%
200213714.2%
2001353.6%
199840.4%
1997434.5%
199610.1%
1995414.3%
198710.1%

代表作

  1. 0
    Investigation on different ESD protection strategies devoted to 3.3 V RF applications (2 GHz) in a 0.18 μm CMOS process ↗

    2002 年 · 被引 142 次

  2. 1
    GGSCRs: GGNMOS Triggered silicon controlled rectifiers for ESD protection in deep sub-micron CMOS processes ↗

    2001 年 · 被引 111 次

  3. 2
    Sub-micron chip ESD protection schemes which avoid avalanching junctions ↗

    1995 年 · 被引 108 次

  4. 3
    Very-fast transmission line pulsing of integrated structures and the charged device model ↗

    1996 年 · 被引 93 次

  5. 4
    Substrate pump NMOS for ESD protection applications ↗

    2002 年 · 被引 80 次

  6. 5
    Breakdown and latent damage of ultra-thin gate oxides under ESD stress conditions ↗

    2002 年 · 被引 77 次

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